Nieuw inspectiesysteem van Mettler Toledo

Voedselproducenten kunnen hele kleine verontreinigingen detecteren middels een nieuw X-ray systeem van Mettler Toledo’s Productinspectie Divisie.

Het X34 X-ray inspectiesysteem detecteert metaal, glas, kunststof met een hogere dichtheid, steen en botfragmenten in allerlei verpakte voedingsmiddelen. Het systeem maakt gebruik van software waarmee de producten automatisch worden ingesteld. Dit vermindert naar eigen zeggen het risico op menselijke fouten en het aantal valse uitwerpen.

Een van de belangrijkste kenmerken is een “Optimum Power” generator van 100W die de detectiegevoeligheid automatisch maximaliseert. De generator wordt aangevuld door een detector van 0,4 mm voor de nauwkeurige opsporing van kleine verontreinigingen.

www.mt.com/pi

New X-ray sytem detects small contaminations

Food producers can detect very small contaminations through a new X-ray system of Mettler Toledo’s Product Inspection Division.

The X34 X-ray system detects metal, glass, plastic with a higher density, stone and bone fragments in all kinds of packed food. The system uses software with which the products can be set up automatically. According to Mettler Toledo, this reduces the risk of human error and the number of false eject.

One of the main features is an “Optimum Power” generator that automatically maximizes the detection sensitivity of 100W. The generator is completed by a detector of 0.4 mm for the accurate detection of small impurities.

www.mt.com/pi

 

Reacties

Reactie toevoegen